如果IGBT失败了，我该怎么办？有哪些测试IGBT的方法？

在我的工作中，我经常遇到IGBT失败的问题，但如果我想分析IGBT失败的原因，我不知道该怎么办。有时候需要判断外观很好的IGBT模块是否异常，应该用什么方法测试？

一般来说，你可以选择使用数字万用表来快速判断IGBT的质量。用万用表的二极管档测试FWD芯片是否正常；用电阻档判断CE、ge、GC是否短路；使用电容文件测试门是否正常。但这些方法只能作为初步的判别手段，不具有普适性。如果想更准确地判断IGBT失败的原因，就需要使用特殊的测试设备。

IGBT全动态参数测试设备是由深圳市微宇佳智能控制有限公司研发制造的专业测试设备，可测试SiC IGBT的导通、关断、短路、栅极充电、二极管反向恢复等动态参数。同时还可以测试单管、半桥、四芯、六芯、PIM等大多数封装的IGBT模块和DBC。

该测试设备为半自动，可自动上下料，并具有自动短路测试和Qg测试功能。最大电压和电流规格为2000V/2000A，最大短路电流为5000A，更高的电压和电流规格可根据用户需求定制。其测试夹具采用压接方式，连接电感小，即插即用，夹具更换方便，兼容各种封装模块和DBC。此外，该装置采用软硬件结合的过流保护机制，保护速度快(

深圳市威宇佳是一家以IGBT、MOSFET、SiC为主要功率半导体的测试设备研发和制造企业。该公司开发的IGBT动态测试设备(1500V/2000A)为国内首创，已被国内多家大型IGBT功率半导体模块厂商批量应用。公司成为国内首家电动汽车IGBT动态测试设备制造商，并通过ISO9001质量体系认证，获得多项专利和软件著作权。

公司开发制造的产品包括IGBT动态参数测试设备、PIM & amp；不断开发单管IGBT专用动态设备、IGBT静态参数测试设备、功率半导体测试平台、高压安全试验箱、可调空心电感器、动静态参数自动测试设备等。为满足功率半导体检测和应用的更多新技术要求提供了可能。