张跃飞的专利授权
2.发明专利:韩小东、张跃飞、张泽。单根纳米线原位力学性能测试和结构分析的方法及装置，专利号:ZL 200610057989.5。
3.发明专利:韩小东、张跃飞、张泽。扫描电镜原位拉伸纳米线的装置和方法，专利号:ZL 200610169839.3。
4.发明专利:韩小东、张跃飞、毛盛成、张泽。扫描电子显微镜电子背散射衍射的原位拉伸装置及测量方法，专利号:ZL 200710176364.5。
5.发明专利:韩小东、岳永海、张跃飞、张泽。一种用于纳米材料原位结构性能测试的透射电镜载玻片，专利号:ZL200710122092.0。
6.发明专利:韩小东、岳永海、郑坤、张跃飞、张泽。压电陶瓷片驱动的扫描电镜中纳米材料拉伸装置，专利号:ZL200810056837.2。
7.发明专利:韩小东、岳永海、张跃飞、张泽。透射电镜纳米材料应力测试载体，专利号:ZL200810056836.8。
8.发明专利:韩小东、刘盼、张跃飞、岳永海、张泽。测量应力下纳米材料机电性能和微观结构的装置，专利号:ZL200820124520.3。
9.发明专利:，刘盼，邓，，张泽，透射电镜用无磁双金属驱动器，专利号:ZL 2005438+00973+0。
10.发明专利:张跃飞。一种柔性版陶瓷网纹辊的制备方法，专利号:ZL 201010123371.0。
11.发明专利:韩小东、岳永海、张跃飞、张泽。一种基于扫描电镜的纳米压痕系统，专利号:ZL 201010142310.9。
12.发明专利:韩小东、岳永海、张跃飞、刘盼、郑坤、张泽。透射电镜原位力和电性能综合测试样品棒，专利号:ZL 20110145305.8。
13.美国发明专利:韩，谢大德，刘，张永峰，张，张，张，应力状态下测量纳米材料机电性能和微观结构的装置和方法。专利号US8，069，733B2。
14.美国发明专利:韩晓东、岳、杨海辉、张玉峰、刘平、郑、王、王晓东、张、张，用于原位测量微结构的双倾斜透射电镜样品架，专利号US8，569，714B2。