信息通信技术的测试原理
本文介绍了在线测试的基本知识和原理。
1简介
1.1定义
在线测试(online Test，ICT，In-Circuit Test)是一种标准的测试方法，通过测试在线元件的电气效率和电气布线来检查制造缺陷和有缺陷的元件。主要检查线路上单个元件和电路网络的开路和短路，具有操作简单、快速、故障定位准确的特点。
飞针ICT基本只进行静态测试，优点是不需要做夹具，程序开发时间短。
针床ICT可以测试模拟器件的功能和数字器件的逻辑功能，故障覆盖率高，但是要为每个单板做一个专用的针床夹具需要很长的时间。
1.2 ICT的范围和特点
检查板上元件的电气性能和电路网络的连接。可以定量测量电阻、电容、电感、晶振等器件，对二极管、三极管、光耦、变压器、继电器、运算放大器、电源模块进行功能测试，对中小型集成电路，如所有74系列、存储器、常用驱动器、开关等IC进行功能测试。
它通过直接测试在线器件的电效率来发现制造工艺的缺陷和元器件的缺陷。组件类可以检查组件值的超差、故障或损坏、内存类的程序错误等。对于工艺类，可以发现焊锡短路、插错、插反、漏装、引脚倾斜、虚焊、PCB短路、断线等故障。
测试的故障直接定位在特定的元器件、设备管脚和网络点上，故障定位准确。故障的维修不需要更多的专业知识。用程序控制自动测试，操作简单，测试快捷，单板测试时间通常从几秒到几十秒。
1。3含义
在线测试通常是生产中的第一个测试过程，可以及时反映制造情况，有利于工艺改进和升级。ICT测试的故障板故障定位准确，维护方便，可以大大提高生产效率，降低维护成本。由于其特定的测试项目，是保证现代大批量生产质量的重要测试方法之一。
简要介绍ICT测试理论。
1的基本测试方法
1.1模拟设备测试
用运算放大器测试。从点“A”开始的“虚拟土地”的概念包括:
Ix = Iref
∴Rx = Vs/ V0*Rref
Vs和Rref分别为激励信号源和仪器计算电阻。如果测得V0，则可以找到Rx。
如果待测Rx是电容和电感，那么Vs交流信号源，Rx是阻抗形式，也可以得到C或L。
1.2隔离(保护)
上面的测试方法是针对独立器件的，但在实际电路中，器件之间是相互连接，相互影响的，所以测试时必须守护Ix ref。隔离是在线测试的基本技术。
在上电路中，由于R1与R2的连接线存在分流，Ix ref，Rx = Vs/ V0*Rref的等式不成立。测试时，只要G和F处于同一电位，R2中就没有电流流过，Ix=Iref和Rx的等式保持不变。将g点接地，因为F点是虚地，两点电位相等，可以实现隔离。实际上，G和F通过隔离运算放大器实现等电位。ICT测试仪可以提供很多隔离点，消除外围电路对测试的影响。
1.2集成电路的测试
对于数字集成电路，采用矢量测试。向量测试类似真值表测量，模拟输入向量，测量输出向量，通过实际的逻辑功能测试来判断器件的好坏。
例如，与非门的测试
对于模拟IC的测试，可以根据IC的实际功能激励电压和电流来测量相应的输出，可以作为功能块测试。
2非矢量测试
随着现代制造技术的发展和VLSI的使用，编写器件的矢量测试程序往往需要花费大量的时间，比如80386的测试程序，一个熟练的程序员要花近半年的时间。随着SMT器件的广泛应用，器件管脚开路的故障现象变得更加突出。为此公司的非矢量测试技术，Teradyne推出了MultiScan；GenRad推出Xpress非矢量测试技术。
2.1 DeltaScan模拟结测试技术
DeltaScan使用几乎所有数字设备引脚和大多数混合信号设备引脚中的静电放电保护或寄生二极管，对被测设备的独立引脚对进行简单的DC电流测试。当板卡电源切断时，设备上任意两个管脚的等效电路如下图所示。
1将负电压加到引脚A的地，电流Ia流过引脚A的正向偏置二极管..测量流经引脚a的电流Ia。
2.保持引脚A的电压，在引脚B施加更高的负电压，电流Ib流过引脚B的正向偏置二极管..由于从引脚A和引脚B到地的* * *与衬底电阻中的电流共享，电流Ia将会降低。
3再次测量流经引脚A的电流Ia。如果在引脚B上施加电压时Ia不变(δ),则一定是布线有问题。
DeltaScan软件综合从设备上许多可能的管脚对获得的测试结果，从而获得准确的故障诊断。信号引脚、电源和接地引脚以及基板都参与了DeltaScan测试，这意味着除了引脚断开之外，DeltaScan还可以检测制造故障，如器件缺失、反向插入和键合线断开。
类似GenRad的测试被称为Junction Xpress。也是利用IC中的二极管特性，但测试是通过测量二极管的频谱特性(二次谐波)来实现的。
DeltaScan技术已经成为第一种无需额外夹具硬件的技术。
2.2帧扫描电容耦合测试
FrameScan使用电容耦合来检测引脚的断开。每个器件上都有一个电容探头，在某个管脚激励信号，电容探头拾取信号。如图所示:
1设备上的多路开关板选择设备上的电容探头。
测试仪中的模拟测试板(ATB)依次向每个待测管脚发送交流信号。
3电容探头收集并缓冲被测引脚上的交流信号。
ATB测量电容探头拾取的交流信号。如果引脚和电路板之间的连接正确，信号将被检测到；如果引脚断开，将没有信号。
类似GenRad的技术被称为Open Xpress。原理差不多。
这种工艺夹具需要传感器等硬件，测试成本略高。
3边界扫描边界扫描技术
ICT测试仪要求每个电路节点至少有一个测试点。然而，随着器件集成度的提高、功能的增强、封装的小型化、SMT元件的增多、多层板的使用以及PCB元件密度的增加，很难在每个节点放置一个探针，这就增加了增加测试点的制造成本。同时，难以开发出功能强大的器件测试库，开发周期延长。因此，联合测试组织(JTAG)发布了IEEE1149.1测试标准。
Ieee 1149.5438+0定义了扫描设备的几个重要特征。首先，定义组成测试访问端口(TAP)的四(五)个引脚:TDI、TDO、TCK、TMS、(TRST)。测试模式选择(TMS)用于加载控制信息；其次，定义了TAP控制器支持的几种不同的测试模式，包括外部测试、内部测试和运行测试。最后，提出了边界扫描描述语言。BSDL语言描述了扫描设备的重要信息。它将引脚定义为输入、输出和双向类型，并定义了TAP的模式和指令集。
具有边界扫描的器件的每个管脚与序列移位寄存器(SSR)的一个单元连接，该单元被称为扫描单元。扫描单元被连接在一起以形成移位寄存器链来控制和检测设备的引脚。其特定的四个引脚用于完成测试任务。
多个扫描设备的扫描链通过它们的抽头连接在一起，以形成连续的边界寄存器链，并且连接到该链的所有设备的管脚可以通过向链头添加抽头信号来控制和检测。这种虚拟触点代替了针床夹具在器件每个引脚上的物理触点，虚拟通路代替了实际的物理通路，省去了大量占用PCB空间的测试焊盘，降低了PCB和夹具的制造成本。
作为一种测试策略，在PCB的可测性设计中，可以用专门的软件分析具有扫描功能的电路点和器件，以及如何在不降低测试覆盖率和最经济地减少测试点和测试管脚的情况下，有效地放置有限数量的测试点。
边界扫描技术解决了不添加测试点的困难，更重要的是提供了一种简单快速的生成测试图形的方法。可以使用软件工具将BSDL文件转换成测试图形，如Teradyne的Victory、GenRad的Basic Scan和Scan Path Finder。解决编写复杂测试库的困难。
TAP访问端口还可以实现CPLD、FPGA和Flash存储器的在系统编程或板上编程。
4 Nand树
Nand-Tree是Inter发明的一种可测性设计技术。在我们的产品中，82371芯片中只有这种设计。描述其设计结构的是一个带有通用程序*.TR2的文件，我们可以将其转换成测试向量。
ICT测试中准确的故障定位和稳定的测试与电路和PCB设计有很大关系。原则上，我们要求每个电路网点都有一个测试点。电路设计应该使每个器件的状态可以相互隔离，而不会相互影响。边界扫描和n and树的设计应该具有可测试性要求。
ICT有测试原理吗？没有
捷智ICT用什么原理测试MOS管？一般MOS管只能检测一步二极管导通，一般ICT测试往往会出现虚测。
1.一般用D/S极来测试其二极管电压。
2.还有一个三点测试，D S的两个管脚号在A B，G的管脚号在隔离点1。N模式下标准值为0.2V，控制极电压在2-5V之间调整。下限可放大至80%左右，上限约为15%，视实际情况而定。
3.上述方法用于N沟道增强型MOS晶体管。
【紧急求助】ICT在线测试原理ICT，In-Circuit Test(在线测试)，是通过测试在线元件的电气效率和电气接线来检查制造缺陷和有缺陷元件的标准测试方法。主要检查线路上各电路网络的开路和短路，具有操作简单、快速、故障定位准确的特点。
详细介绍了ICT的原理、测试和方法。ICT是三个英文单词的前缀组合:信息和通信技术(简称ICT)。它是信息技术和通信技术融合形成的新概念和新技术领域。
21世纪初，八国集团在冲绳召开的《全球信息社会冲绳宪章》上说:“信息通信技术是21世纪社会发展最强大的动力之一，并将很快成为世界经济增长的重要推动力。”
事实上，信息通信行业对ICT的理解并不统一。作为一种技术，一般理解ICT不仅可以提供基于宽带和高速通信网络的多种服务，还可以传递和享受信息，是一种通用的智慧工具。至于业务会多到什么程度，这个工具会“智能”到什么程度，目前的概念还很模糊。三网融合只是ICT的一个基础和前奏，IPTV和手机电视很可能只是冰山一角。
对于已经吹响转型号角的固网运营商来说，ICT现在更多的被视为提供给客户的一种服务。这种服务是IT(信息产业)和CT(通信产业)的结合和交融，通信产业、电子信息产业、互联网和传媒产业都将被整合在ICT的范围内。中国电信等固网运营商为客户提供一站式ICT服务，包括集成服务、外包服务、专业服务、知识服务和软件开发服务。事实上，ICT服务不仅为企业客户提供了线路建设和网络架构的解决方案，还减轻了企业在建立应用、系统升级、运维、安全等方面的负担，节约了企业的运营成本，因此受到企业用户的欢迎。
CT企业与IT服务企业的特征比较
在中国电信企业战略转型的指引下，ICT已经成为与互联网应用、视频内容和移动通信并列的四大拓展业务领域之一。ICT的背景是产业的融合和对信息通信服务的强烈需求。固网运营商进入ICT领域，是在固网空间处处被挤压，企业发展乏力甚至陷入衰退时的选择。严格来说属于危机转型或者弱转型。转型的先行者中，既有从木材加工行业成功转型为IT行业的诺基亚等公司，也有at & amp；t .因此，中国固网运营商有必要全面审视自己与IT企业的距离。我们来简单对比一下IT企业和CT企业。
类似
CT和IT都属于信息产业，产业特征相似，产业链上很多节点重叠，相辅相成，密不可分。一方面，许多IT厂商也是CT设备的供应商，如网络交换机和路由器。另一方面，CT本身就是IT服务行业的主要客户。例如，2004年，电信行业占中国IT服务市场结构的17.9%，仅次于金融行业(18.6%)。同时，在信息化进程中，IT与CT的融合越来越紧密。通常，一个成功的信息应用系统必须将IT和CT的知识和资源有机结合才能取得成功，如远程教育、远程医疗、电子农业、电子政务、电子商务、信息安全等领域。
差异
1.不同的资本结构。CT的行业特点是资金密集型领域，没有一定的实力很难进入，有规模效应。设备和资金是主要的生产要素。IT服务业是智力密集型领域，人是企业的主要生产要素。IBM的IT服务营业收入约占总业务的40%。同时，全球6.5438+0.3亿服务专业人员，占IBM员工总数的一半。对于IT服务提供商来说，人员投资是投资的主体。以IBM与瑞士电力和自动化技术公司ABB的服务合同为例。该服务合同将在654.38+00年产生654.38+07亿美元的收入，但IBM每年支付的人工成本将超过9000万美元，占人工成本的53%。
2.提供的内容不一样。CT服务主要提供功能性产品和服务，如电话、宽带接入、小灵通、网络等。，加上一些增值服务；IT服务主要是人的服务，受益于技术服务，提供解决方案。
3.产品生命周期不同。CT产品的生命周期很长。从1876贝尔发明电话到现在已经一百多年了，这么多年了宽带还在成长期。IT服务需要高技术的支撑，技术的演进密切相关，产品生命周期短。
4.就业特点不同。CT企业长期以来形成了一套完善的用人制度。员工的薪酬、岗位体系、职业发展都有相对固定的模式，员工队伍相对稳定。IT行业知识型员工集中，用工制度灵活，员工流动性大。调查显示，由于薪酬、工作压力、职业发展等原因，近四成IT员工做好了随时跳槽的准备。
在线测试仪(In-circuit-tester)简称ICT，是一种自动在线测试仪，是PCBA(印刷电路板组装公司)生产的现代电子企业必备的测试设备。ICT应用范围广，测量精度高，对检测到的问题有明确的指示，对于电子技术一般的工人来说，处理有问题的PCBA非常容易。使用ICT可以大大提高生产效率，降低生产成本。2.ICT测试主要是*测试探针接触PCB版图外的测试点，检测PCBA各部分的开路、短路、焊接。可分为开路测试、短路测试、电阻测试、电容测试、二极管测试、三极管测试、场效应晶体管测试、IC引脚测试(testjet` connect check)等常见和特殊元器件，如漏装、错装、引线值偏差、焊点连接、电路板开路和短路等。，并准确的告诉用户故障是哪个元件或者开路短路在哪个点。ICT设备的生产厂家不一样，Teletri、OKANO、捷智JET、TESCON、POSSEHL、三星(FARA)、振华(协和)、谷玮(GW)、TAKAYA、SYSTEM(系统)、SRC生产的ICT都在中国应用。
ICT测试夹具的制造原理是什么？制作ICT测试夹具的原理是，
根据电路板的机械尺寸图，在电路板上打出DIP引脚和测试点的位置，然后插入引脚。
电路板中的网(net)就是PCB布线，全部引出。从而达到用仪器从外部测试内部电路结构是否正常的目的。
光谱测试仪的测试原理光谱仪的工作原理
光谱分析作为一种重要的分析方法，在科研、生产和质量控制中发挥着巨大的作用。无论是通过吸收光谱、荧光光谱还是拉曼光谱，都是获得单波长辐射不可或缺的手段。由于现代单色仪可以具有宽光谱范围(UV-IR)、高光谱分辨率(0.001nm)、波长自动扫描和完备的计算机控制功能，很容易与其他外围设备配合组成高性能的自动测试系统，利用计算机自动扫描多光栅光谱仪成为光谱研究的首选。
在光谱学的应用中，获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了使用单色光源(如光谱灯、激光器、发光二极管)、有色玻璃和干涉滤光片外，还使用了大多数具有扫描和波长选择的单色仪。特别是目前广泛使用扫描光栅单色仪在连续的宽波长范围(白光)内选择窄光谱(单色或单波长)辐射。
当一束复合光进入光谱仪的入射狭缝时，首先被光学准直器准直成平行光，然后被衍射光栅色散成独立的波长(颜色)。利用离开光栅的不同波长的不同角度，它被聚焦镜重新成像在出射狭缝上。输出波长可以通过计算机控制精确改变。
格栅基础
作为重要的分光器件，光栅的选择和效率直接影响整个系统的性能。为了帮助用户更好的选择，这里简单介绍一下。
光栅分为刻划光栅、复制光栅和全息光栅。掠射光栅是用金刚石刻刀在镀有金属的表面上机械刻划而成的；复制光栅是从母光栅复制的。典型的划线光栅和复制光栅的凹槽是三角形。全息光栅是通过激光干涉条纹光刻形成的。全息照相术通常包括正弦凹槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点，全息光栅光谱范围宽、杂散光低、光谱分辨率高。
光栅方程
反射式衍射光栅是在基片上周期性地刻出许多细槽。一系列平行凹槽之间的间隔相当于波长，光栅表面镀有高反射率的金属膜。从光栅槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对于某一波长，它在大部分方向上消失，只在某些有限的方向上出现，这些方向决定了衍射级次。如图1所示，光栅凹槽垂直于辐射的入射面，辐射与光栅法线的入射角为α，衍射角为β，衍射级次为m，d为凹槽间距。在以下条件下可获得最大干扰:
mλ=d(正弦α+正弦β)
定义φ为入射光与衍射光夹角的一半，即φ=(α-β)/2；θ为光栅相对于零级光谱位置的角度，即θ=(α+β)/2，得到更方便的光栅方程:
mλ=2dcosφsinθ
从光栅方程可以看出:
对于给定的方向β，可能存在对应于满足光栅方程的M阶的几个波长。例如，600纳米的初级辐射与300纳米的次级辐射和200纳米的三级辐射具有相同的衍射角。
衍射级m可以是正的或负的。
同阶多波长分布在不同的β。
具有多个波长的辐射方向是固定的。如果旋转光栅，改变α，在α+β不变的方向上会得到不同的波长。
如何选择光栅
选择光栅时，应考虑以下因素:
刻槽密度G=1/d，d为刻槽间距，单位为毫米
闪耀波长
闪耀波长是光栅衍射效率最大的点，所以在选择光栅时，要尽量选择在实际需要波长附近的闪耀波长。如果实际在可见光范围内使用，可以选择发光波长为500nm。
光栅刻划
光栅线的数量与光谱分辨率直接相关。光栅线多光谱分辨率高，谱线少，光谱覆盖范围广。两者应根据实验灵活选择。
光栅效率
光栅效率是衍射到给定级的单色光与入射单色光的比率。光栅效率越高，信号损失越小。为了提高这个效率，除了改进光栅制造工艺，还采用了特殊的镀膜来提高反射效率。
光栅光谱仪的重要参数:
分辨率；解决
光栅光谱仪的分辨率r是分离两条相邻谱线能力的量度。根据瑞利准则，它是:
r = =λ/δλ
光栅光谱仪的实际定义是测量单条谱线的半峰全宽(FWHM)。实际上，分辨率取决于光栅的分辨能力、系统的有效焦距、设定的狭缝宽度、系统的光学像差等参数。
R∝M.F/W
m-光栅线数f-光谱仪焦距w-狭缝宽度
色散
光栅光谱仪的色散决定了其分离波长的能力。光谱仪的逆线色散可以这样计算:改变单色仪焦平面上的距离χ，引起波长λ的变化，即:
δλ/δχ= dcosβ/nF
这里，d、β和f分别是系统的光栅槽间距、衍射角和有效焦距，n是衍射级次。从方程中可以看出，反转线色散不是常数，而是随波长而变化。在所用的波长范围内，变化可能超过2倍。根据国家标准，在这个样本中，使用1200l/mm光栅色散的中间值(典型地为435.8nm)处的反转线色散。
带宽
带宽是光谱仪在给定波长下输出的波长宽度，忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性。它是线色散的倒数和狭缝宽度的乘积。比如单色仪的狭缝为0.2mm，光栅的反线色散为2.7nm/mm，则带宽为2.7*0.2=0.54nm。
波长准确度、重复性和准确度
波长精度是光谱仪确定的波长的刻度等级，单位为nm。通常，波长精度随波长而变化，这是本样本中最差的情况。
波长重复性是光谱仪在设定一个波长后改变设定，然后回到原来波长的能力。这反映了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光光谱仪具有优良的波长驱动和机械稳定性，其重复性超过波长精度。
波长准确度是光谱仪的设定波长和实际波长之差。每个单色仪都应该检查许多波长的波长准确度。
F/#
F/#定义为分光计直径与焦距的比值。这是分光计接收角的度量，是调节单色仪与光源和探测器耦合的重要论据。当F/#匹配时，可以使用光谱仪的全孔径。但是大多数单色仪使用矩形光学元件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值，矩形光学元件的等效直径为同面积圆的直径。
LRC测试仪的原理？LCR测试仪用于测量线圈的电感、电容器的电容和电阻器的电阻。它是基于电桥原理的测量仪器，可以进行更精确的测量。详细情况可以去日图查询，专门做仪器仪表的。
高压试验仪器原理(耐压测试仪原理)ED2671A通用交流/DC耐压测试仪主要特点
◆根据IEC、ISO、BS、UL、JIS等国内外安全标准设计，可产生交流电测试高压，直流电测试高压。
◆除适用于感性电器的安全测试外，特别适用于容性家用电器和低压电器的安全测试，一机两用。
◆测试电压和泄漏电流由4位LED数码管显示，测试时间由2位LED数码管显示。
◆漏电流值由粗调和微调旋钮调节。
◆输出容量大。
◆泄漏电流超差时自动切断测试电压，并发出声光报警信号。
◆有外部控制端子。
ED2671A通用交流/DC耐压测试仪主要技术参数
◆试验电压:交流/DC 0 ~ 10 kV (ED 2677)
◆测试电压误差:小于3%
◆输出容量:750VA
◆漏电流范围:交流0.01ma ~ 20ma DC 0.01ma ~ 10ma。
◆漏电流测试精度:小于3%
◆测试时间:1 ~ 99秒