Xps(X射线光电子能谱(Xps))详细数据的完整收集。
基本介绍中文名:X射线光电子能谱分析mbth: X射线光电子能谱生产公司:美国惠普公司主要投稿人:siegbahn的历史沿革、物理原理、系统组成、主要用途、应用实例、历史沿革1887、海因里希·鲁道夫·赫兹发现光电效应、爱因斯坦1905解释(并于1921获得诺贝尔物理学奖)。两年后的1907年，P.D. Innes用伦琴管、亥姆霍兹线圈、磁半球(电子能量分析仪)和光刻做了实验，记录了宽带发射电子与速度的函数关系。他的实验实际上记录了人类第一张X射线光电子能谱。其他研究人员，如亨利·莫塞尔、罗林森和罗宾逊，独立进行了大量实验，试图研究这些宽带中包含的细节。XPS (X射线光电子能谱)的研究因战争而停止。第二次世界大战后，瑞典物理学家凯·西格巴赫(Kai siegbahn)和他在乌普萨拉的研究团队在XPS设备的研制上取得了许多重大进展，并在1954获得了第一个高能量、高分辨率的氯化钠X射线光电子能谱，显示了XPS技术的巨大潜力。在1967之后的几年里，siegbahn发表了一系列关于XPS技术的学术成果，使得XPS的应用得到了世界的认可。惠普公司与siegbahn合作，于1969年制造了世界上第一台商用单色X射线光电子能谱仪。1981年，siegbahn获得了诺贝尔物理学奖，以表彰他在将XPS发展成为一项重要的分析技术方面的杰出贡献。x射线光电子能谱被称为化学分析电子能谱，因为它对化学分析最有用。最近，英国VG公司制造的一台名为“ESCASCOPE”的可成像X射线光电子能谱仪不仅可以获得ES-CA谱，还可以获得ESCA像，其空间分辨率可以达到10μm，被认为是表面分析技术的一项重要突破。物理原理XPS的原理是用X射线照射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受到激发而发射出来。被光子激发的电子叫做光电子。光电子的能量是可以测量的。以光电子的动能/结合能(EB = HV光能-Ek动能-W功函数)为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标，可以画出光电子能谱。从而获得样本相关信息。系统部件一个商用XPS系统的主要部件包括:X射线源、超高真空不锈钢舱和超高真空泵、电子收集透镜、电子能量分析器、μ合金磁场、样品舱、样品架、样品台和控制装置。XPS的主要用途是广泛使用。用于分析无机化合物、合金、半导体、聚合物、元素、催化剂、玻璃、陶瓷、染料、纸张、油墨、木材、化妆品、牙齿、骨骼、植入物、生物材料、油脂、胶水等。XPS可以用来测量:1，元素定性分析。根据特征谱线在能谱中出现的位置，可以鉴别出除H和He以外的所有元素。2.元素的定量分析。根据能谱图中的光电子谱线强度(光电子峰的面积)来反映原子的含量或相对浓度。3、固体表面分析。包括表面的化学成分或元素成分，原子价态和表面能态的分布，表面电子的电子云分布和能级结构等。4、化合物的结构。它可以精确测量内层电子结合能的化学位移，提供化学键和电荷分布的信息。5.分子生物学中的应用。例:XPS鉴定出维生素B12中有少量的Co。应用示例1。确定金属氧化物表面膜中金属原子的氧化态；2.识别石墨或碳化物表面的碳；